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2020-11-022020-05-192015-05-292015-06-09誤差期設(shè)置：50%、10%、1%（0）；
充電電壓：0～5.5kV；
計(jì)時(shí)器量程：1-99.99s；
電壓表量程：0-5kV；
計(jì)時(shí)分辨率：0.01s；
顯示：指針式充電電壓表（右）、指針式試樣電壓表（左）、數(shù)顯計(jì)時(shí)器（中），彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程；
測(cè)試模式：手動(dòng)、自動(dòng)（只能測(cè)試從5kV開(kāi)始的衰減）；
自動(dòng)測(cè)試次數(shù)：1-9次；
測(cè)試時(shí)間間隔：1-25秒；
輸入電源：86-264VAC，50/60Hz。
406D裝備的磁吸棒用于薄膜和布疋資料的測(cè)驗(yàn)；金屬夾具能夠測(cè)驗(yàn)較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的資料。選配IC管型夾具能夠無(wú)損測(cè)驗(yàn)IC芯片包裝管；選配806B無(wú)損測(cè)驗(yàn)電極能夠直接放置在試樣上，還能夠測(cè)驗(yàn)粉體和液體靜電衰減時(shí)刻。
配套法拉第測(cè)驗(yàn)籠供給一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)驗(yàn)，法拉第籠經(jīng)過(guò)配套銜接線(xiàn)銜接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖設(shè)備，翻開(kāi)法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被堵截。
STM-2驗(yàn)證模塊供給一個(gè)規(guī)范的電阻，電容直接采取體系電容。經(jīng)過(guò)測(cè)驗(yàn)STM-2規(guī)范模塊能夠驗(yàn)證是不是正常。
法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭能夠卸下，放置在806B無(wú)損電極上后，能夠直接測(cè)驗(yàn)粉體、液體和固體試樣。
美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，，中國(guó)GB 19082，GJB2625
訂購(gòu)標(biāo)準(zhǔn)配置：
406D測(cè)試主機(jī)；
磁性固定電極；
法拉第測(cè)試籠；
條形夾具；
STM-2驗(yàn)證模塊。
021-64208466
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